X荧光硫含量测定仪提高了抗杂质干扰的能力

　X荧光硫含量测定仪广泛应用于检测液体、固体或气体样品中的硫含量。与国内外同类仪器相比，具有性能稳定可靠，分析精度高，重复性好等特点。
 
　　样品中的总硫含量是通过紫外荧光的方法被快速测定的。高精度的数采卡和计算机技术的应用为数据的采集、控制、处理提供了可靠的保证。
 
　　仪器系统采用紫外荧光法测定总硫含量，提高了抗杂质干扰的能力，避免了电量法对滴定池的繁锁操作和因此带来的不稳定因素，使得仪器的灵敏度大为提高。系统关键部件采用器件，使得整机性能有了可靠的保证。
 
　　X荧光硫含量测定仪可测样品状态：液体、气体(配相应进样器)，PMT高压范围：DC500V～900V,根据测量浓度的高低，通过操作系统设置所需值。
 
　　用荧光强度比率分析方法,温度、气压自动修正,碳氢比亦可修正，判断仪器的工作状态和电气参数，待测样时,自动伸出机体外,置放样品及更换防漏油部件十分方便,又避免探测系统被污染的可能，硫含量测定仪数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数随时可查，采用热敏打印机,更换打印纸简单便捷,也省去了打印色带耗材。节省标样及气体的用量，高激发效率端窗X光管，大面积探测器，良好的散热，有力的确保测试的稳定，上照式设计省去了传统保护膜，提高测试精度，避免样品污染光管和探测器铍窗。
 
　　X荧光硫含量测定仪都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自*的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的。硫含量测定仪以微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号。此化学发光的强度与NO成正比，而NO的生成量又与样品中的总氮含量成正比，故可以通过测定化学发光的强度来测定样品中的的总含量。